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英文名稱	中文名稱	CAS號	操作
Thin film stress measuring	薄膜應力測量儀		詳細
HR EI-TOF-MS	高質量分辨率飛行時間質譜儀		詳細
TOF-MS	便攜式飛行時間質譜儀		詳細
Wafer Thickness Measuring	晶圓厚度測量儀		詳細
Wafer Scriber	晶圓劃片機半導體專用高精度金剛石劃線機		詳細
Contactless Wafer Metrology Gauge to characterize wafers for Resistivity, Thickness and P/N	晶圓厚度/電阻率/PN摻雜型測量儀 MX6012		詳細
Contact angle measuring	接觸角測量儀		詳細
Contactless Wafer Thickness Gauge	非接觸式晶圓厚度測量儀 MX 301-Q		詳細
Parylene Coating	Parylene派瑞林真空鍍膜機 Series 3000 Standard		詳細
Film thickness measuring instrument	膜厚測量儀		詳細
Compact EI-TOF-MS	緊湊型電子電離飛行時間質譜儀		詳細
Wafer Thickness/TTV/Bow/Warp	晶圓測厚儀 MX 203-4-21 晶圓厚度/TTV/Bow/Warp測量		詳細
PTR-TOF-MS	質子轉移反應質譜儀		詳細
Fully automatic contact angle measuring instrument	全自動接觸角測量儀		詳細

產品總數(shù)：14 產品頁碼：
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